应用范围
ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
融合了计量学和断层X射线摄影，测量技术的新革命！
仪器参数/仪器型号 METROTOM 800 METROTOM 1500
测量范围（mm） 直径150*170 直径170*150 直径350*300
分辨率（μm） 3.5-6
射线管类型 密闭式微焦点射线管 开放式X射线技术
射线管，管功率 130Kv，39W 225Kv，500W
探测器分辨率 1536*1920 1024*1024 2048*2048
放射源-探测器距离（mm） 800 800 1500
软件 CALYPSO
壳体材料 聚合物混凝土 铅
用途 测量实验室